Gefügeuntersuchungen
Rasterelektronenmikroskopische Untersuchungen nach Prüfplatzanweisung 30 – 34:
  • Sekundärelektronenbilder
  • EDX-Analyse
  • Line Scan
  • Mapping
Stereomikroskopische Aufnahmen

Kontakt: Dipl.-Ing. Gero Stolle

Telefon: +49 3521 463530

Kontakt: Dipl.-Ing. Wolfgang Krahl

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