Röntgenfluoreszenzanalyse (XRF)

Beschreibung

Röntgenfluoreszenzanalyse

Die Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA) (engl. X-Ray Fluorescence spectroscopy, XRF spectroscopy) ist heute das vermutlich am häufigsten angewandte Verfahren um die qualitative und quantitative chemische Zusammensetzung u.a. oxidischer Proben zu ermitteln. In diesem Zusammenhang wird Sie seit mehr als 30 Jahren im Keramikinstitut angewandt. Das heute verwendete Gerät ist ein Axiosmax der Fa. Panalytical (Bj. 2011). Mit diesem Gerät lassen sich nahezu alle Elemente des Periodensystems ab der Ordnungszahl 9 (Fluor) bestimmen. Die Nachweisgrenze beträgt 20 ppm. Gehalte bis 100% sind ohne Verdünnungen mit hoher Genauigkeit bestimmbar.

Die klassische Silikatanalyse mittels XRF beinhaltet  die Bestimmung der folgenden Elemente Si, Al, Fe, Ti, Ca, K, Mg, Na sowie die Bestimmung des Glühverlustes. Da an der geglühten Substanz analysiert wird, können alle Elemente als Oxide ausgewiesen werden. Je nach Bedarf können weitere Elemente hinzukommen.

Die Probenvorbereitung für die RFA verlangt im Allgemeinen eine Zerkleinerung von Festkörpern und Pulver zu d90< 32 µm. Aus diesem Pulver wird mit Hilfe von Additiven eine Glastablette oder eine Pulverpresstablette hergestellt. Die Analyse an Festkörpern ist ebenfalls möglich.
Der größte Vorteil der RFA liegt im geringen Aufwand der Durchführung von Analysen und der damit verbundenen kurzen Zeiträume zwischen Probeneingang und Ergebnisübermittlung .