Labore: Analyse / Prüfgeräte
Waagen Wägebereich bis 12000 g
Biege- und Druckfestigkeitsprüfgerät Kraftmessdose: 1 kN, 10 kN
Gerät zur Reindichtebestimmung
Oberflächenmessgerät (BET) Bereich 0,1 - 1000 m²/g
Gerät zur Bestimmung des Oberflächenverschleißes Abrasimeter: variable Umdrehung max. 12000                   (DIN EN 10545)
Schleifscheibe nach Böhme
Porosimeter Porengröße:  4 nm - 116 µm                                         Messdruck max. 4000 bar
Glanzmessgerät Winkel: 20°, 60°, 80° und deren Kombinationen    Prüffläche: 90 x 35 mm
Rotationsviskosimeter (Gallenkamp) Drahtstärke: 24, 26, 30, 32, 34, 36 SWG
Auslaufviskosimeter Düsensatz                                                                     nach Lehmann: 1,13; 1,6; 2,26; 3,2; 4,51; 6,38 mm           nach Keyl: 2; 3; 4; 5; 6; 8 mm
Schwindungsmarken 50 und 100 mm

Röntgenspektrometer
(RFA, XRF)

Chemische Zusammensetzung von Festkörpern und Pulvern, F bis Pb, 10 ppm bis 100%
Röntgendiffraktometer
(RDA, XRD; RFS, Röntgenfeinstrukturanaly- sator)
Phasenzusammensetzung von Festkörpern und Pulvern (Phasenanalyse), spezielle Tonmineralanalyse, mehr als 100 Standardproben aus allen Bereichen oxydischer Werkstoffe, qualitative Analyse mit ICCD Powder Diffraction File
Kohlenstoffanalysator
(TOC, TIC, TC, Kohelnstoffanalyse)
Infrarotspektroskopie, Bestimmung Gesamtkohlenstoff, organischer Kohlenstoff und anorganischer Kohlenstoff an Festkörpern und Pulvern, Rohrofen bis 1500°C, Messbereich 0,01 %C bis 100 %C
DTA / TG Temperaturbereich: RT bis 1600°C
Dilatometer Temperaturbereich: RT bis 1600°C
Dilatometer Temperaturbereich: -170 bis 1000°C
Stegerspannmessgerät Temperaturbereich: Rt bis 1000°C
Erhitzungsmikroskop Temperaturbereich: RT bis 1500°C
SediGraph Meßbereich: 0,1 - 250 µm
Lasergranulometer Meßbereich: 40 nm - 400 µm
Farbmessgerät Spektrophotometer mit Glanzfalle
Rasterelektronenmikroskop mit EDX-Spektrometer; alle Elemente von der Ordnungszahl 6 bis 92
Stereomikroskop mit digitalem Bildeinzug; 100-fach Vergrößerung
Digitalmikroskop VHX 5000 große Tiefenschärfe; 2D- und 3D-Betrachtung; Bilder bis 200-fache Vergrößerung + digitale Nachvergrößerung; Betrachtung aus jedem beliebigen Winkel durch Kippung der z-Achse; Panoramabildfunktion (Stitching); Messoptionen (bis zu 30 verschiedene Optionen für 2D- und für 3D-Messungen); Profilmessungen an beliebigen Oberflächen

Kontakt: Tom Scholz

Telefon: +49 3521 463527